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紫外荧光硫分析仪如何提高抗杂质干扰的能力?
  • 发布日期:2019-04-08      浏览次数:59
    • 紫外荧光硫分析仪广泛应用于检测液体、固体或气体样品中的硫含量。与国内外同类仪器相比,具有性能稳定可靠,分析精度高,重复性好等特点。

        

        样品中的总硫含量是通过紫外荧光的方法被快速测定的。高精度的数采卡和计算机技术的应用为数据的采集、控制、处理提供了可靠的保证。

        

        仪器系统采用紫外荧光法测定总硫含量,提高了抗杂质干扰的能力,避免了电量法对滴定池的繁锁操作和因此带来的不稳定因素,使得仪器的灵敏度大为提高。系统关键部件采用进口器件,使得整机性能有了可靠的保证。

        

        紫外荧光硫分析仪可测样品状态:液体、气体(配相应进样器),PMT高压范围:DC500V~900V,根据测量浓度的高低,通过操作系统设置所需值。

        

        用荧光强度比率分析方法,温度、气压自动修正,碳氢比亦可修正,判断仪器的工作状态和电气参数,待测样时,自动伸出机体外,置放样品及更换防漏油部件十分方便,又避免探测系统被污染的可能,紫外荧光硫分析仪数据存储量大,含量分析结果和标定工作曲线参数随时可查,采用热敏打印机,更换打印纸简单便捷,也省去了打印色带耗材。节省标样及气体的用量,高激发效率端窗X光管,大面积探测器,良好的散热,有力的确保测试的稳定,上照式设计省去了传统保护膜,提高测试精度,避免样品污染光管和探测器铍窗。

        

        紫外荧光硫分析仪都有其特定的能级结构,其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行,内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,成为自由电子,我们说原子被激发了,其他的外层电子便会填补这一空位,也就是所谓跃迁,同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的。紫外荧光硫分析仪以微电流放大、计算机数据处理,即可转换为与光强度成正比的电信号。此化学发光的强度与NO成正比,而NO的生成量又与样品中的总氮含量成正比,故可以通过测定化学发光的强度来测定样品中的的总含量。

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